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    CT200N氧化膜測厚儀(CT200拓展型)

    產品名稱: CT200N氧化膜測厚儀(CT200拓展型)
    產品型號: CT200N/CT200F
    產品展商: 創合科技
    產品文檔: 無相關文檔

    簡單介紹

    CT200N氧化膜測厚儀(CT200拓展型)增強了數據統計功能,數據存儲采用回環覆蓋方式,避免了新用戶使用時出現存儲器滿的異常。采用了磁性(CT200F)和渦流(CT200N)兩種測厚方法,CT200F可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度,CT200N氧化膜測厚儀(CT200拓展型)可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度.


    CT200N氧化膜測厚儀(CT200拓展型)  的詳細介紹

    CT200N氧化膜測厚儀(CT200拓展型)

     

    CT200N氧化膜測厚儀(CT200拓展型)  產品概述:

    CT200升級版在開發過程中,增強了數據統計功能,數據存儲采用回環覆蓋方式,避免了新用戶使用時出現存儲器滿的異常。采用了磁性(CT200F)和渦流(CT200N)兩種測厚方法,即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度

    CT200N氧化膜測厚儀(CT200拓展型) 功能特點

    更加方便的數據統計、增加存儲量  

    任意界面測量

    新穎的界面布局 

    簡潔、經濟、實用

    增加了渦流功能測厚,實現一機兩用

    設有五個統計量:平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、測試次數(NO.

    標準偏差(S.DEV

    具有存貯功能:可存貯500個測量值

     

    CT200N氧化膜測厚儀(CT200拓展型)技術參數:

    測頭類型

    CT200F

    CT200N

    工作原理

    磁感應

    電渦流

    測量范圍

    0~1250μm

    0~1250μm,其中:銅上鍍鉻(0~40μm

    分辨力

    0.1μm0~50μm),1微米(>50μm

    測量誤差

    3%H1μmH為測量范圍)

    示值誤差

    一點校準(μm

    ±(3%H+1

    ±(3%H+1

    測試條件

    *小曲率半徑(μm

    1.5

    3

    *小面積的直徑(μm

    Φ7

    Φ5

    基體臨界厚度(㎜)

    0.5

    0.3

    工作電壓

    3*1.5V

    外形尺寸

    155*68*27

    整機重量

    230g

    標準配置

    主機、探頭(FN)、基體(鐵或鋁)、標準片

     

    CT200N氧化膜測厚儀(CT200拓展型)標準配置:

    主機、探頭(FN)、基體(鐵或鋁)、標準片、電池、隨機文件、儀器箱

     

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